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PSS CPON01001

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普赛斯Combo PON器件性能综合测试系统是模拟了Combo PON器件实际复杂的应用环境,自动快速测试Combo PON器件22收近40多种性能参数的测试系统。一键完成1490nm 2.5G DFB器件发射和1577nm 10G EML器件发射的LIV综合测试,1310nm1270nmAPD器件或者PIN TIA器件的灵敏度和响应度测试,支持内部光路的隔离度和光串扰测试,全面评估Combo PON器件参数指标,真实反映器件的性能。整套系统方案还设计了配套的测试夹具

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